اینترفرومتر خودکار AccuFiz Duo - 4D Technology

Automated interferometer AccuFiz Duo
digitallaserFizeau

مشخصات کلیدی

مدل
AccuFiz Duo
برند
4D Technology
دقت اندازه‌گیری
±0.001 میکرومتر
مود اندازه‌گیری
کوتاه و بلند طول هم‌زمانی
منبع نور
لیزر HeNe پایدار (632.8 نانومتر) و منبع کوچک طول هم‌زمانی
سیستم کنترل
خودکار با نرم‌افزار کنترل پیشرفته
کاربردهای اصلی
اندازه‌گیری سطوح صاف، اندازه‌گیری حفره‌های دوربرد، آزمون یکنواختی شاخص شکست، اندازه‌گیری در محیط‌های کنترل‌شده، اندازه‌گیری شعاع منحنی
نوع اندازه‌گیری
لیزری، فایزو، دیجیتال، خودکار

مشخصات فنی

مدلAccuFiz Duo
برند4D Technology
منبع نورلیزر HeNe پایدار (632.8 نانومتر) و منبع کوچک طول هم‌زمانی
سیستم کنترلخودکار با نرم‌افزار کنترل پیشرفته
کاربردهای اصلیاندازه‌گیری سطوح صاف، اندازه‌گیری حفره‌های دوربرد، آزمون یکنواختی شاخص شکست، اندازه‌گیری در محیط‌های کنترل‌شده، اندازه‌گیری شعاع منحنی
دقت اندازه‌گیری±0.001 میکرومتر
مود اندازه‌گیریکوتاه و بلند طول هم‌زمانی
نوع اندازه‌گیریلیزری، فایزو، دیجیتال، خودکار
زمان اندازه‌گیریکمتر از 150 میکروثانیه
سیستم تصویربردارییک دوربین با فرکانس بالا
قابلیت کاهش نوساناتحالت حامل فضایی (spatial carrier) برای کاهش تأثیر لرزش و ناپایداری
محدوده اندازه‌گیری سطوحشیشه‌های صاف موازی تا ضخامت 0.2 میلی‌متر

توضیحات

اینترفرومتر AccuFiz Duo با استفاده از مود کوچک طول هم‌زمانی (short coherence mode)، قادر به انجام اندازه‌گیری‌های پویای محوری با دقت بسیار بالا است. این سیستم از فناوری مالکیت‌شده با یک سنسور فاز سریع و یک دوربین مجزا بهره می‌برد و اندازه‌گیری پیچیده‌ی سطح موج (Wavefront) را در کمتر از 150 میکروثانیه انجام می‌دهد. این قابلیت، امکان اندازه‌گیری دقیق حتی در شرایط لرزش و ناپایداری محیطی را فراهم می‌کند.

منبع نور با طول موج کوتاه، امکان اندازه‌گیری سطوح صاف موازی (مانند شیشه‌های صاف) تا ضخامت 0.2 میلی‌متر را بدون نیاز به پوشش سطوح (برای حذف نوارهای ناخواسته) فراهم می‌کند. کاربردهای دیگر شامل اندازه‌گیری حفره‌های دوربرد، آزمون یکنواختی شاخص شکست، و تست در شرایط محیطی کنترل‌شده است. سیستم داخلی خودکار و سریع، امکان جستجوی سریع و جداسازی هر سطح را فراهم می‌کند.

در حالت طول هم‌زمانی بلند (long coherence mode)، از لیزر HeNe پایدار استفاده می‌شود که مزایای سیستم‌های فایزوی فازشیفت استاندارد را دارا است. این حالت امکان اندازه‌گیری حفره‌های بسیار طولانی و همچنین حالت دینامیکی حامل فضایی (spatial carrier dynamic mode) برای کاهش تأثیر لرزش و ناپایداری را فراهم می‌کند. این حالت برای اندازه‌گیری استاندارد شعاع منحنی نیز مناسب است.

منبع نور 632.8 نانومتری HeNe، امکان انجام اندازه‌گیری‌های مبتنی بر هولوگرام دیجیتال را فراهم می‌کند.