اینترفومتر خودکار ویو‌ماستر پرو ۲ / پرو ۲

Automated interferometer WaveMaster® PRO 2 / PRO 2
wavefront division

مشخصات کلیدی

مدل
WaveMaster® PRO 2 / PRO 2
برند
TRIOPTICS
استاندارد
ISO 10110
کشور سازنده
آلمان
سیستم خودکار
بله
سنسور اندازه‌گیری
سنسور شاک-هارتمن
خروجی داده‌ها
تمام داده‌های اندازه‌گیری برای هر لنز به صورت جداگانه
نوع اندازه‌گیری
پیشانی موج (Wavefront Division)

مشخصات فنی

مدلWaveMaster® PRO 2 / PRO 2
برندTRIOPTICS
استانداردISO 10110
کشور سازندهآلمان
سیستم خودکاربله
خروجی داده‌هاتمام داده‌های اندازه‌گیری برای هر لنز به صورت جداگانه
نوع اندازه‌گیریپیشانی موج (Wavefront Division)
سنسور اندازه‌گیریسنسور شاک-هارتمن
گزینه‌های اختیاریسیستم یکپارچه اندازه‌گیری جهت‌گیری ویفر، کمان‌گیری کلی و شیب ویفر
زمان اندازه‌گیری متوسطکمتر از ۲ ثانیه برای هر قطعه
پارامترهای اندازه‌گیریPV، RMS، زرنیک، PSF، MTF، استرهل
قابلیت اندازه‌گیری ویفربله
قابلیت اندازه‌گیری سطوح صافبله
قابلیت اندازه‌گیری لنزهای کروی و غیرکرویبله

توضیحات

در تولید انبوه لنزهای کوچک پلاستیکی یا شیشه‌ای و پنجره‌های نوری، نیاز به کیفیت بالا و بهره‌وری بیشتر به‌طور مداوم در حال افزایش است. استفاده از فناوری اندازه‌گیری پیشانی موج در خطوط تولید انبوه، امکان بهینه‌سازی قابل توجهی را فراهم می‌کند. ویو‌ماستر پرو ۲ و پرو ۲ ویفر، استانداردهای جدیدی در آزمون سریال قطعات نوری و ویفرهای نوری ایجاد کرده‌اند.

با زمان اندازه‌گیری معمولی ۲ ثانیه برای هر قطعه و تغییر سریع صفحه یا ویفر، این دستگاه به‌راحتی در محیط‌های تولید انبوه قابل استفاده است. از نظر فناوری اندازه‌گیری، این دستگاه با استفاده از سنسور شاک-هارتمن، پیشانی موج را اندازه‌گیری کرده و از آن پارامترهای مختلف استخراج می‌کند. سپس مقایسه‌ای دقیق با داده‌های طراحی برای هر لنز انجام می‌شود.

این امر منجر به ایجاد مجموعه داده‌های بسیار دقیق و کاربردی برای بهینه‌سازی بیشتر فرآیند تولید می‌شود. ویژگی‌های کلیدی: زمان اندازه‌گیری کمتر از ۲ ثانیه برای هر لنز، اندازه‌گیری خودکار و سریع مجموعه‌های بزرگ نمونه (ویفر یا صفحه‌های پیش‌بارگذاری‌شده)، قابلیت تنظیم معیارهای موفقیت (PASS) و شکست (FAIL) توسط کاربر، اندازه‌گیری مطلق یا نسبی پیشانی موج، تحلیل جامع پیشانی موج (PV، RMS، زرنیک، PSF، MTF، استرهل)، دو حالت نصب: یکی برای اندازه‌گیری لنزهای کروی و غیرکروی (تکی یا ویفر)، دیگری برای اندازه‌گیری سطوح صاف (تکی یا ویفر)، امکان خروجی تمام داده‌های اندازه‌گیری برای هر لنز به صورت جداگانه، گزینه اختیاری: سیستم یکپارچه برای اندازه‌گیری جهت‌گیری ویفر، کمان‌گیری کلی و شیب ویفر.