اندازه‌گیری پروفایل لیزری BP209-VIS - دستگاه تحلیل کیفیت پرتو لیزری با دقت بالا

Laser beam profiler BP209-VIS

مشخصات کلیدی

مدل
BP209-VIS
برند
Thorlabs
سرعت اسکن
2 تا 20 هرتز
پوشش فیزیکی
دیافراگم 9 میلی‌متری
حالت کینف-ایج
دارد
روش نمایش داده
نمودار 2 بعدی یا پسود 3 بعدی
نوع دستگاه
اندازه‌گیری پروفایل لیزری (Beam Profiler)
کاربرد اصلی
تحلیل کیفیت پرتو لیزری، اندازه‌گیری توزیع توان فضایی، کنترل کیفیت در سیستم‌های لیزری صنعتی و آزمایشگاهی

مشخصات فنی

مدلBP209-VIS
برندThorlabs
سرعت اسکن2 تا 20 هرتز
نوع دستگاهاندازه‌گیری پروفایل لیزری (Beam Profiler)
پوشش فیزیکیدیافراگم 9 میلی‌متری
کاربرد اصلیتحلیل کیفیت پرتو لیزری، اندازه‌گیری توزیع توان فضایی، کنترل کیفیت در سیستم‌های لیزری صنعتی و آزمایشگاهی
حالت کینف-ایجدارد
روش نمایش دادهنمودار 2 بعدی یا پسود 3 بعدی
دامنه دینامیکی78 دسی‌بل
روش اندازه‌گیریاسکن شیاری دوگانه (Dual Scanning Slit)
سنسور توان داخلیدارد (غیرکالیبره)
اتصال به کامپیوترUSB 2.0
محدوده طول موج کاربردی200 - 1100 نانومتر
استاندارد اندازه‌گیریISO11146
دقت اندازه‌گیری قطر پرتو2.5 میکرومتر تا 9 میلی‌متر

توضیحات

دستگاه BP209-VIS یک دستگاه تحلیل پروفایل لیزری دو محوره با دقت بالا است که برای اندازه‌گیری کیفیت پرتو و توزیع توان فضایی لیزرها طراحی شده است. این دستگاه با استفاده از سیستم اسکن شیاری دوگانه، توانایی اندازه‌گیری همزمان پروفایل‌های X و Y را دارد و بدون نیاز به کاهنده شدت (attenuator) در مسیر پرتو، دامنه دینامیکی 78 دسی‌بل و سرعت اسکن قابل تنظیم بین 2 تا 20 هرتز را ارائه می‌دهد.

این دستگاه برای لیزرها در محدوده طول موج 200 تا 1100 نانومتر طراحی شده است و دارای دیافراگم فیزیکی به قطر 9 میلی‌متر است. طراحی آن شامل دو عرض شیار (2.5 میکرومتر تا 9 میلی‌متر)، الکترونیک‌های کم نویز و حالت کینف-ایج (knife-edge mode) است که امکان تحلیل طیف گسترده‌ای از قطرهای پرتو را فراهم می‌کند. اندازه قطر پرتو بر اساس استاندارد ISO11146 انجام می‌شود و می‌تواند با سطوح برشی استاندارد صنعتی مانند 1/e² (13.5٪)، 50٪ یا سطح دلخواه کاربر نمایش داده شود.

این دستگاه دارای اتصال USB 2.0 با سرعت بالا به کامپیوتر است و یک سنسور توان داخلی (غیرکالیبره) نیز دارد. برای لیزرها با شکل غیرگاوسی، توصیه می‌شود از دستگاه‌های کمیسیونی (camera beam profilers) استفاده شود.